[TIP] 전자工學(공학) 實驗 - 다이오드 특성 곡선
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작성일 23-01-24 08:35
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전자工學(공학) 實驗 - 다이오드 특성 곡선
- <그림 3>의 그래프는 <수식 1>에서 definition 된 저항 RD와 전압축과의 교점인 VB에 의해서 결정된다.
B. DC 측정(測定) 법에 의한 特性(특성)곡선 추출
實驗 목적
순서
설명
- DMM의 양호/불량 시험은 간편하지만 충분한 정보를 제공하지 못한다.
- <그림 2>의 좌측에 나타난 곡선 그래프는 비선형 관계이어서, 회로해석시에 어려움을 주게되어서, 회로해석시에서는 이를 <그림 2>의 우측그래프처럼 선형관계로 대치한다. 여기서 동작점이란 (IQ, VQ)의 지점을 가르킨다. 즉, 다이오드 전압 VD가 교점 VB보다 작은 경우 다이오드 전류는 0이 된다.
전자공학 실험,다이오드 특성 곡선
실험 해설
- 대부분의 DMM측정(測定) 기에는 다이오드 시험단자가 따로 준비되어있따 이 경우, 그 DMM측정(測定) 단자의 등가회로는 내부 직류전원과 저항이 직렬 연결된 전압원이 된다. 이를 자세하게 그린 것이 <그림 3>이다. 따라서 <그림 1>의 회로를 이용해 <그림 2>의 다이오드 特性(특성)곡선을 얻을 수 있따 <그림 1>처럼 직류전원을 Vs가 가변되면, 다이오드 전류가 ID가 결정된다. 그리고 이에 해당하는 등가회로는 <그림 4>와 같다. 전류-전압 특성곡선을 측정하고, 그 특성곡선을 사용해서 다이오드의 모델링 회로를 그릴수 있다. 이때, Vs의 수치가 낮기 때문에 다이오드의 순방향 特性(특성)은 쉽게 얻지만, 역방향 特性(특성)중 항복전압 근처에서의 특징은 얻어지지 않는다. 전류-전압 특성곡선을 측정하고, 그 특성곡선을 사용해서 다이오드의 모델링 회로를 그릴수 있다.
A. 다이오드의 양호/불량 시험
다.
실험 목적 - 다이오드의 양호 혹은 불량 판정 시험을 한다.
- 다이오드의 양호 혹은 불량 판정 시험을 한다.
- 이는 동작점 Q에서의 다이오드의 순방향 저항이라고도 한다. DMM의 종류에 따라서는 저항을 지시하는 대신, 다이오드 양단에 걸리는 전압을 지시하는 경우도 있따 이경우는 저항치 대신, 0.6V(순방향) 혹은 2.6V(역방향)을 지시한다.
